XRIS Dereo HE耐高电压多用途DR
无损检测高能多用途平板探测器
- 系统类别μm：
- 像素尺寸μm：
- A/D转换：
- 成像面积mm：
Xris （X-ray Imaging Solutions）
比利时X射线数字图像公司是欧洲领先的工业射线数字检测方案的开拓者，是比利时发展最快的50家高科技企业之一，推出领先的GemX（宝石）系列便携式射线机、Gxc移动式射线机、Dereo（迪瑞欧）射线数字成像系统（DR）。
产品为世界主流的工业无损检测探伤产品，针对航空航天、国防军工、运输设备、机械制造、压力容器、电力、石油化工、能源、安检安监、防爆安保和考古科研领域都有专业的射线检测技术方案和配置。
Dereo（迪瑞欧）系列产品：
高分辨率小型探测器：HR0510；HR1010；
100μm高分辨率探测器：UP2530；UP3643；
高能多用途平板探测器：HE2530；HE4040；
在线式高能平板探测器：RAD2530，RAD4040。
Dereo HE 2530 高能多用途平板探测器
主要参数:
探测器类别：非晶硅/Gadox
射线耐压：0-15MeV(兆伏=1000千伏)
像素尺寸：139μm
灰度等级(A/D):16 bits
成像面积：250*300毫米
外形尺寸：W471×H437×T27毫米
整机重量：8.5公斤
软件：Xris Maestro V5.1.0
交流电源或自带电池作业（持续工作6~8小时）
适用于航空&航天（NADCAP认证）、石化、机械和电力等的金属材料、非金属材料和复合材料的缺陷检测
Dereo HE 4040 高能多用途平板探测器
主要参数:
探测器类别：非晶硅/Gadox
射线耐压：0-15MeV(兆伏=1000千伏)
像素尺寸：200μm
灰度等级(A/D):14bits（可选16bits）
成像面积：400*400毫米
外形尺寸：W605×H586×T25毫米
整机重量：12.3公斤
软件：Xris Maestro V5.1.0
交流电源或自带电池作业（持续工作6~8小时）
适用于航空&航天（NADCAP认证）、石化、机械和电力等的金属材料、非金属材料和复合材料的缺陷检测